Atelier 2022
Le 18e Atelier ANADEF a eu lieu du 13 au 17 Juin 2022, au site résidentiel Club Belambra Business des "Tuquets" de Seignosse -Hossegor (Landes)
Après deux ans de reports, l'atelier était très attendu par les 168 participants (un record) avec un niveau d'implication de tous qui ont donné lieu a de très fructueux échanges.
Sessions et micro ateliers se sont succedés dans une ambiance chaleureuse, bien ponctuées par des sessions horts salle (apéritifs et repas). Sans oublier les concours photos etvdéos et l" Atelier Spécial VLSI (Visant à Limiter la Surcharge Intellectuelle)
Les sessions
Accès du contenu des sessions réservés aux membres d'ANADEF
Open session
Sessions plénières
Session 1 Connectique
Session 2 Packaging, PCBs et Assemblages
Session 3 Analyse de défaillances de composants de puissance (SI, SiC, GaN)
Session 4 Analyse de défaillances des circuits intégrés VLSI
Session 5 Analyse de défaillances des composants passifs
Session 6 Analyses de Défaillances des composants optoélectroniques et hyperfréquences
Session 7 Caractérisations et défaillances de vernis, pottings et autres protections d'assemblages
Session 8 Simulation et reproduction de défauts électriques (EOS, ESD, CEM)
Session 9 Défiabilisation des composants dans le process industriel ou en utilisation
Micro-ateliers
Microatelier 1 Packaging, PCBs & Assemblages
Microatelier 2 FIB
Microatelier 3 Simulation et reproduction de défauts thermomécaniques
Microatelier 4 Préparation d'échantillons
Liste des participants
Photos souvenir
Programmes
Programme détaillé de l'Atelier 2022 avec erratum 2022-03-21 (inversion horaires Sessions 6 & 8).
Tutoriels
Les tutoriels sont distribués uniquement aux participants de l'atelier:
Tutoriel 1 « Systèmes de stockage d’énergie »
par Jean-Michel VINASSA (IMS, université de Bordeaux)
Tutoriel 2 « Les fondamentaux de la fiabilité pour l’électronique »
ar Hélène FREMONT (IMS, université de Bordeaux)
Tutoriel 3 « Fabrication des composants : Partie 1 : circuits intégrés ; Partie 2 : assemblages »
par Audrey GARNIER (STMicroelectronics - Rousset)
Tutoriel 4 « Les fondamentaux de l’analyse de défaillance »
par Gerald HALLER (STMicroelectronics - Rousset)
Tutoriel 5 « Techniques de localisation de défauts par moyens électro-optiques »
par Guillaume BASCOUL (CNES - Toulouse) et Sylvain DUDIT(STMicroelectronics - Grenoble)
Tutoriel 6 « Les techniques d’analyse de surface »
par ves DEPUYDT (TESCAN ANALYTICS Orsay)
Concours Photos-Vidéos
Grand Prix Photo Noir & Blanc: champ de stries (Elemca)
Grand Prix photo Couleur : Ouverture bondings CuPd (Erwann Le Flao-Airbus DS)
Prix de l'Esthétique : Natural Silicon Boob filler on top of the passivation (Audrey Garnier-STM)
Prix de l'Insolite et de l'Originalité : Tête (Elemca)
Prix de la Technique : Boîte à crayons (Christophe Guérin-DGA MI)
Prix spécial des participants : EBSD sur BGA (Elemca)
Grand Prix Vidéo : The art side of quality (Audrey Garnier-STM)
Nos partenaires à l'atelier
Appel à participation et contribution
Le 18e Atelier ANADEF est un évènement incontournable pour tous les experts et spécialistes de l’analyse de défaillance des composants pour l’électronique et de leurs assemblages, quelles que soient leurs fonctionnalités et leurs technologies.
Ce sont quatre jours et demi pour
APPRENDRE, CONTRIBUER, PARTICIPER, PARTAGER ET ECHANGER
en formule résidentielle pour favoriser les échanges et élargir vos réseaux.
Télécharger l'appel à participation et contribution à l'atelier 2022